Service-Navigation
Sascha Bott
Hrsg.: Fraunhofer IPMS
2017, 172 S., zahlr., teils farb. Abb. u. Tab., Softcover
Dresden, TU, Diss., 2016
Fraunhofer Verlag
ISBN 978-3-8396-1185-2
kostenloser Download als PDF-Datei
Inhalt
Beim CMP-Prozess in der Halbleiterfertigung ist das Erreichen globaler Planarität von herausragender Bedeutung. Die Planarisierungsleistung wird auch von den zu planarisierenden Strukturen selbst beeinflusst. Ihre Topographie innerhalb eines Chips führt zu langreichweitigen Wechselwirkungen. Die globale Planarität hängt somit vom Chiplayout ab.
Zum besseren Verständnis dieser Abhängigkeiten gibt es CMP-Modelle auf der Chipskala, die bei der Prozessentwicklung und beim fertigungsgerechten Entwurf unterstützen. Der modellseitige Parameter der die Planarisierungsleistung kennzeichnet ist die Wechselwirkungslänge.
Die neu entwickelten Modelle dieser Arbeit, das Global-Höhen- und das Rauheit-Höhen-Modell, zeigen ihre Verbesserungen in der besseren Beschreibung der langreichweitigen Wechselwirkungen. Sie berücksichtigen die nach der Abscheidung vorhandene und auch die sich durch den Prozessverlauf ändernde Topographie besser.
Um Zusammenhänge zwischen globaler Planarität und Prozessbedingungen zu zeigen, wurden die Auswirkungen verschiedener CMP-Pads auf die Planarisierungsleistung untersucht. Als Ausblick wurde die Nutzbarmachung der Modelle für zum Druck nichtlineare Prozesse gezeigt.
Verfügbare Formate
Fraunhofer IPMS, mechanical engineering, mathematical modelling, electronic engineering, chemisch-mechanisches Planarisieren, CMP, Modellierung und Simulation, Halbleiterfertigung, Chipskala, Langreichweitige Wechselwirkungen, Elektroingenieure, Verfahrensingenieure, Maschinenbauingenieur, Physiker, Mikrotechnologen,
* Alle Preise verstehen sich inkl. der gesetzlichen MwSt. Lieferung deutschlandweit und nach Österreich versandkostenfrei. Informationen über die Versandkosten ins Ausland finden Sie hier.