Buch: OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
Jürgen Beyerer
2015, VII, 298 p. S., w. figs. 210 mm, Softcover
Sprache: Englisch
KIT Scientific Publishing
ISBN 978-3-7315-0318-7

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