![Buch: Zuverlässigkeitsanalyse von gekapselten Bauelementen in der 3D-Leiterplattenintegration, , 978-3-95908-140-5 Buch: Zuverlässigkeitsanalyse von gekapselten Bauelementen in der 3D-Leiterplattenintegration](https://www.irbnet.de/daten/bildanzeige/Normal/72794402.jpg)
Zuverlässigkeitsanalyse von gekapselten Bauelementen in der 3D-Leiterplattenintegration
2018, 150 S., Softcover
TUDpress
ISBN 978-3-95908-140-5
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Fraunhofer IKTS,
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