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Yvonne Wich
Methode zur patentbasierten Identifikation von Technologieentwicklungspotenzialen
Schriftenreihe zu Arbeitswissenschaft und Technologiemanagement, Band 34
Hrsg.: Fraunhofer IAO, Stuttgart
2017, 222  S., zahlr. Abb. u. Tab., Softcover
Fraunhofer Verlag

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Yvonne Siwczyk
IT-gestützte White-Spot-Analyse
Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen
Hrsg.: Fraunhofer IAO, Stuttgart
2010, 65  S., zahlr. Abb. u. Tab., Softcover
Fraunhofer Verlag

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