Bücher, CDs, Broschüren (7):

Treffer: 1 bis 7


Benedikt Welp
Systemkonzept und Schaltungen für breitbandige MIMO-FMCW-Radarsysteme bis 60 GHz in modernen SiGe-Bipolartechnologien
Hrsg.: Fraunhofer FHR, Wachtberg
2019, 182  S., zahlr., meist farb. Abb. u. Tab., Softcover
Fraunhofer Verlag

mehr Infos

 
Robért Glein
On Adaptive Single-Event Effect Mitigation in Reconfigurable FPGAs
Forschungsberichte aus dem Lehrstuhl für Informationstechnik, Band 13
Hrsg.: Albert Heuberger
2019, 171  S., num., mostly col. illus. and tab., Softcover
Fraunhofer Verlag

mehr Infos

 
Ana Belén Amado Rey
Analysis, design and experimental evaluation of sub-THz power amplifiers based on GaAs metamorphic HEMT technology
Science for systems, Band 39
Hrsg.: Oliver Ambacher; Fraunhofer IAF, Freiburg
2018, 184  S., num., mostly col. illus. and tab., Softcover
Fraunhofer Verlag

mehr Infos

 
Erdin Ture
GaN-Based Tri-Gate High Electron Mobility Transistors
Science for systems, Band 35
Hrsg.: Fraunhofer IAF, Freiburg
2018, 169  S., num., mostly col. illus. and tab., Softcover
Fraunhofer Verlag

mehr Infos

 
Martin Wilke
Plasmaätzen zur Herstellung von Siliziumdurchkontaktierungen mit kontrolliertem Seitenwinkel für die dreidimensionale Integration im Wafer Level Packaging
Hrsg.: Fraunhofer IZM
2016, 153  S., zahlr., meist farb. Abb. u. Tab., Softcover
Fraunhofer Verlag

mehr Infos

 
Dirk Schwantuschke
Modeling of Dispersive Millimeter-Wave GaN HEMT Devices for High Power Amplifier Design
Science for systems, Band 23
Hrsg.: Oliver Ambacher; Fraunhofer IAF, Freiburg
2016, ca. 200  S., num., mostly col. illus. and tab., Softcover
Fraunhofer Verlag

mehr Infos

 
Jan Jakob Hees
All-Diamond Nanoelectrode Arrays
Science for systems, Band 10
Hrsg.: Oliver Ambacher; Fraunhofer IAF, Freiburg
2013, 162  S., num. mostly col. illus., Softcover
Fraunhofer Verlag

mehr Infos

 



* Alle Preise verstehen sich inkl. der gesetzlichen MwSt. Lieferung deutschlandweit und nach Österreich versandkostenfrei. Informationen über die Versandkosten ins Ausland finden Sie hier.